双侧侧脑室后角脱髓鞘改变是如何发生的？
2025-01-14 11:17
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轴位：t1wi,t2wiflair.矢状位？轴位:t1wi,t2wiflair.矢状位:t1wi两侧大脑对称，双侧侧脑后角可见对称班片状异常信号，t2wi.flair高信号，病变边界清楚，周围无水肿，余脑实质未见异常信号。闹室无括大，中线居中，幕下结构未见异常。我要问，双侧侧脑室后角脱髓鞘改变是怎样发声改变的，谢。
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回答1
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李华卿 医师
家庭医生在线合作医院
其他
中医科
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双侧侧脑室后角脱髓鞘改变的发生可能与多种因素有关，如遗传因素、免疫因素、感染因素、血管因素和中毒因素等。 1.遗传因素：某些遗传基因突变可能导致神经髓鞘形成或维持异常，增加脱髓鞘病变的发生风险。 2.免疫因素：自身免疫性疾病，如多发性硬化，免疫系统错误攻击神经髓鞘，引发脱髓鞘改变。 3.感染因素：病毒、细菌等病原体感染，可能激发免疫反应，损伤神经髓鞘。 4.血管因素：脑部供血不足，影响神经细胞和髓鞘的营养供应，导致髓鞘受损。 5.中毒因素：长期接触某些化学物质或药物，如铅、汞、一氧化碳等，可能造成神经髓鞘中毒性损害。 6.其他因素：长期的慢性疾病、营养不良、代谢紊乱等也可能在一定程度上影响神经髓鞘的正常功能。 总之，双侧侧脑室后角脱髓鞘改变的发生是一个复杂的过程，往往是多种因素相互作用的结果。对于出现这种改变的患者，需要综合评估各种可能的因素，并采取相应的治疗和预防措施。
2025-01-15 00:49
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